Теория тестирования логических устройств, Кудрявцев В.Б., Гасанов Э.Э., Долотова О.А., Погосян Г.Р., 2006

Теория тестирования логических устройств, Кудрявцев В.Б., Гасанов Э.Э., Долотова О.А., Погосян Г.Р., 2006.

Тестирование логических устройств — активно развивающееся научно-прикладное направление кибернетики, возникшее в середине прошлого столетия. Оно по праву связывается с именем СВ. Яблонского. Тематика направления группируется вокруг задач характеризации тестов и их построения и фокусируется на устройствах, представленных на макро- и структурном уровнях. В книге эта тематика раскрывается на модели логического устройства в его макровиде. Решаются задачи описания сложности тестов для устройств, реализующих булевы функции из классов Поста, а также функции /с-значной логики. Приводятся соответствующие процедуры построения таких тестов.
Для студентов, аспирантов и специалистов в области надежности и контроля управляющих систем.



Дискретные вычислительные системы без памяти, называемые также логическими устройствами, играют все большую роль как в самой науке, так и в ее приложениях, а также в технике и быту.
Практически важной характеристикой таких устройств является надежность их функционирования. Необходимость обеспечения этого свойства привела к возникновению нового научного направления в кибернетике, которое получило название надежность и контроль управляющих систем и по праву связывается с именем С.В. Яблонского.
Здесь мы останавливаемся на изложении результатов по проверке правильности функционирования логических устройств, рассматриваемых не на структурном, а на макроуровне.
Решение этой задачи осуществляется с помощью тестового подхода, предложенного СВ. Яблонским. Его суть состоит в следующем. Имеется некоторое логическое устройство с п входами и одним выходом (см. рис. 1). Предполагается, что это логическое устройство в исправном состоянии реализует функцию А'-значной логики / от п переменных.


ОГЛАВЛЕНИЕ.

Оглавление
Предисловие редактора Предисловие
I. Сложность тестов для k-значных логических
устройств
Введение
Глава 1. Константные неисправности
Глава 2. Неисправности типа слипания
Глава 3. Инверсные неисправности
Глава 4. Разнотипные неисправности
Глава 5. Асимптотика функций Шеннона для классов Поста
Глава 6. Сложность минимальных тестов для почти всех функций из классов Поста
Глава 7. О сложности минимальных тестов для классов Поста
Глава 8. Алгоритмы построения минимальных тестов для классов Поста
Глава 9. Заключение
Список литературы


Купить .










Теги: тестирование :: логические устройства :: Кудрявцев :: Гасанов :: Долотова :: Погосян :: 2006