Магнетизм на острие иглы, Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии, Монография, Моргунов Р.Б., Коплак О.В., Безверхний А.И., Дмитриев О.С., 2018

Магнетизм на острие иглы, Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии, Монография, Моргунов Р.Б., Коплак О.В., Безверхний А.И., Дмитриев О.С., 2018.
      
   Изложены современные представления об исследовании поверхности твёрдых тел и органических объектов методом зондовой микроскопии. Рассмотрен принцип работы атомно-силовой микроскопии в различных режимах сканирования. Представлены возможности использования магнитно-силовой микроскопии в исследовании доменной структуры ферромагнетиков и тонких плёнок, объектов полупроводниковой спинтроники.
Представляет интерес для научных сотрудников, работающих в области физики поверхности, физики твёрдого тела и магнетизма, а также для студентов и аспирантов физических и инженерных специальностей университетов при изучении спецкурсов физики наносистем.




Силы межатомного взаимодействия.
Принцип работы атомно-силового микроскопа основан на регистрации взаимодействия между сканирующим зондом и образцом. Зонд (кантилевер) представляет собой упругую консольную балку с нано-размерным остриём, расположенным перпендикулярно плоскости консоли. Диаметр кончика острия равен ~5...10 нм [1]. В результате силового взаимодействия системы зонд-образец консоль кантилевера изгибается. В зависимости от рельефа поверхности силы межатомного взаимодействия будут варьироваться, и в результате угол изгиба консоли будет пропорционально связан с данной силой. Угол изгиба кантилевера интерпретируется как изменение Z координаты рельефа поверхности.

Принцип работы атомно-силового микроскопа основан на силах межатомного взаимодействия. Межмолекулярные взаимодействия -это взаимодействия между атомами и молекулами, которые не приводят к появлению ковалентных химических связей. В атомно-силовом микроскопе телами, чьё межатомное взаимодействие измеряется, являются поверхность исследуемого образца и поверхность сканирующего зонда.

ОГЛАВЛЕНИЕ.
Введение. 
1. Принцип работы атомно-силового микроскопа.
1.1. Силы межатомного взаимодействия.
1.2. Устройство и характеристики АСМ.
1.3. Основные конструкционные элементы АСМ.
1.3.1. Кантилевер.
1.3.2. Силовые и резонансные свойства балок кантилеверов.
1.3.3. Магнитные кантилеверы. 
1.3.4. Пьезоэлектрические элементы.
1.3.5. Система управления с обратной связью.
1.3.6. Сканирующая головка. 
1.4. Принцип регистрации данных.
1.5. Формирование и обработка СЗМ изображений.
1.6. Сканируюший зондовый микроскоп NanoEducator.
1.6.1. Конструкция СЗМ NanoEducator.
1.6.2. Зондовый датчик силового взаимодействия.
1.6.3. Механизм автоматизированного подвода зонда к образцу. 
2. Режим сканирования.
2.1. Контактный режим сканирования.
2.1.1. Метод постоянной высоты.
2.1.2. Метод постоянной силы.
2.2. Полуконтактный режим сканирования.
3. Магнитно-силовая микроскопия. Двухпроходная методика.
3.1. Статическая Магнитно-Силовая Микроскопия.
3.2. Динамическая Магнитно-Силовая Микроскопия.
3.3. Метод Биттера.
4. Основы магнетизма.
4.1. Диамагнетизм.
4.2. Парамагнетизм.
4.3. Ферромагнетизм.
4.3.1. Доменные структуры ферромагнетиков. Движение доменных стенок.
4.3.2. Стенка Блоха.
4.3.3. Стенка Нееля.
5. Калибровочные решётки.
5.1. Калибровочная решётка TGT1.
5.2. Калибровочная решётка TGG1.
5.3. Калибровочная решётка TGQ1.
5.4. Калибровочная решётка TGX1.
5.5. Калибровочная решётка TGZ1.
5.6. Калибровочная решётка TGZ2.
6. Обработка данных.
6.1. Качество поверхности.
6.1.1. Параметры шероховатости.
6.2. Преобразование Фурье.
6.2.1. Применение быстрого преобразования Фурье.
6.2.2. Применение обратного преобразования Фурье.
6.3. Распределение определяющего параметра структурных единиц поверхности.
7. Применение атомно-силовой микроскопии в полупроводниковой спинтронике. Исследование поверхности феромагнетиков и тонких плёнок с феромагнитными включениями.
7.1. Коллективные спиновые процессы в магниторазбавлених полупроводниках. 
7.2. Магнитные свойства тонких плёнок GaSbMn.
7.2.1. Релаксация намагниченности плёнок GaSbMn.
7.3. Антиферромагнитные включения в органическом полупроводнике (DOEO)·4HgBr4·TCE.
7.3.1. Спиновая динамика в органических полупроводниках.
7.4. Магнетизм сплава CoFeB, легированного Dy и Pr. 
7.4.1. Движение доменных стенок.
7.5. Локальная намагниченность в трёхслойных CoFeB/Ta/CoFeB, контактирующих с клеточно-магнитными метрическими комплексами.
7.6. Сканирование биологических объектов.
8. Артефакты.
8.1. Анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопию.
8.2. Двоение картинки.
8.3. Загрязнение поверхности.
8.4. Оптическая интерференция.
8.5. Нестабильная амплитуда колебаний кантилевера.
8.6. Сдвиг резонансной частоты колебаний кантилевера.
8.7. Перемагничивание образца кантилевером.
8.8. Выбор методики.
8.9. Влияние внешних воздействий на качество изображения.
Заключение.
Список используемой литературы.



Бесплатно скачать электронную книгу в удобном формате, смотреть и читать:
Скачать книгу Магнетизм на острие иглы, Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии, Монография, Моргунов Р.Б., Коплак О.В., Безверхний А.И., Дмитриев О.С., 2018 - fileskachat.com, быстрое и бесплатное скачивание.

Скачать файл № 1 - pdf
Скачать файл № 2 - rtf
Ниже можно купить эту книгу, если она есть в продаже, и похожие книги по лучшей цене со скидкой с доставкой по всей России.Купить книги


Скачать - rtf - Яндекс.Диск.

Скачать - pdf - Яндекс.Диск.




Теги: учебник по физике :: физика :: Моргунов :: Коплак :: Безверхний :: Дмитриев :: микроскопия