Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий, Горлов М.И., Сергеев В.А., 2015

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий, Горлов М.И., Сергеев В.А., 2015.

  В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности.
Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности. а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий, Горлов М.И., Сергеев В.А., 2015


Дестабилизирующие факторы и информативные параметры.
Качество функционирования любого ППИ обусловлено свойствами многих материалов, используемых при его изготовлении. Поэтому каждый экземпляр ППИ хотя бы немного, но отличается в пространстве параметров от остальных представителей одной и той же технологической выборки. Это явление обусловлено разбросом свойств исходных сырья и материалов, нестабильностью режимов технологических операций, износом оборудования при производстве и т. и. [10]. Например, на качестве создаваемого подзатворного диэлектрика значительно сказываются условия его изготовления и. в частности, температура и длительность технологических процессов [11].

Все кристаллические материалы реальных ППИ находятся в квазистационарных состояниях, уровни устойчивости которых могут между собой различаться [12]. Поэтому и без того сложная картина внутреннего состояния материалов изменяется под действием внешних возбуждений, то есть дестабилизирующих факторов. Под действием этих факторов в случае статистических разбросов свойств исходных материалов, а также определенного уровня их взаимодействий и случайных отклонений режимов технологических операций, каждый экземпляр ППИ. имеющий сложную структуру, обладает индивидуально специфическим внутренним состоянием в каждый момент времени, определяющим его технические характеристики.



Бесплатно скачать электронную книгу в удобном формате, смотреть и читать:
Скачать книгу Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий, Горлов М.И., Сергеев В.А., 2015 - fileskachat.com, быстрое и бесплатное скачивание.

Скачать pdf
Ниже можно купить эту книгу по лучшей цене со скидкой с доставкой по всей России.Купить эту книгу



Скачать - pdf - Яндекс.Диск.
Дата публикации:





Теги: :: :: :: ::


Следующие учебники и книги:
Предыдущие статьи:


 


 

Книги, учебники, обучение по разделам




Не нашёл? Найди:





2021-03-03 23:40:36