Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий, Горлов М.И., Сергеев В.А., 2015.
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности.
Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности. а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Дестабилизирующие факторы и информативные параметры.
Качество функционирования любого ППИ обусловлено свойствами многих материалов, используемых при его изготовлении. Поэтому каждый экземпляр ППИ хотя бы немного, но отличается в пространстве параметров от остальных представителей одной и той же технологической выборки. Это явление обусловлено разбросом свойств исходных сырья и материалов, нестабильностью режимов технологических операций, износом оборудования при производстве и т. и. [10]. Например, на качестве создаваемого подзатворного диэлектрика значительно сказываются условия его изготовления и. в частности, температура и длительность технологических процессов [11].
Все кристаллические материалы реальных ППИ находятся в квазистационарных состояниях, уровни устойчивости которых могут между собой различаться [12]. Поэтому и без того сложная картина внутреннего состояния материалов изменяется под действием внешних возбуждений, то есть дестабилизирующих факторов. Под действием этих факторов в случае статистических разбросов свойств исходных материалов, а также определенного уровня их взаимодействий и случайных отклонений режимов технологических операций, каждый экземпляр ППИ. имеющий сложную структуру, обладает индивидуально специфическим внутренним состоянием в каждый момент времени, определяющим его технические характеристики.
Бесплатно скачать электронную книгу в удобном формате, смотреть и читать:
Скачать книгу Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий, Горлов М.И., Сергеев В.А., 2015 - fileskachat.com, быстрое и бесплатное скачивание.
Скачать pdf
Ниже можно купить эту книгу по лучшей цене со скидкой с доставкой по всей России.Купить эту книгу
Скачать - pdf - Яндекс.Диск.
Дата публикации:
Теги: учебник по электронике :: электроника :: электротехника :: Горлов :: Сергеев
Смотрите также учебники, книги и учебные материалы:
Следующие учебники и книги:
- Основы электротехники, Бутырин П.А., Толчеев О.В., Шакирзянов Ф.Н., 2014
- Электротехника и основы электроники, Иванов И.И., Соловьев Г.И., Фролов В.Я., 2016
- Электромагнитные переходные процессы в электрических системах, Котова Е.Н., Паниковская Т.Ю., 2014
- Электромагнитная совместимость радиоэлектронных средств и радиоконтроль, Методы оценки и эффективности, монография, Сай П.А., 2015
Предыдущие статьи:
- Практическая электротехника, Основы электротехники с использованием MATLAB/Simulink, Рябенький В.М., Солобуто Л.В., Черевко А.И., Лимонникова Е.В., 2014
- Основы теории электрических аппаратов, Курбатов П.А., 2015
- Основы синтеза цепей, Бакалов В.П., Воробиенко П.П., Крук Б.И., 2015
- Модуляция, кодирование и моделирование в телекоммуникационных системах, теория и практика, Голиков А.М., 2016