Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов, Миркин Л.И., Уманский Я.С., 1961

Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов, Миркин Л.И., Уманский Я.С., 1961.

    Справочник содержит данные, необходимые для выбора методики получения и расчета рентгенограмм поликристаллических тел. Приведены таблицы и графики, предназначенные для решения как общих, так и ряда специальных задач рентгеноструктурного анализа поликристаллов.

    Справочник предназначен для работников рентгеновских лабораторий научно-исследовательских институтов и промышленных предприятий, а также может быть полезен физикам, инженерам различного профиля и студентам специальностей, связанных с изучением структуры материалов.

СОДЕРЖАНИЕ
Предисловие редактора. 10
От автора. 12
РАЗДЕЛ I
ОБЩИЕ МЕТОДЫ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА
Глава 1. Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом и рентгеновские спектры 15
1-1. Характеристическое рентгеновское излучение. 15
1-1а. Длины волн K-серии рентгеновского излучения (15). 1-1б. Длины волн L-серии рентгеновского излучения (18,19). 1-1в. Относительные интенсивности линий K-серии характеристического спектра (22). 1-1г. Ширина линий характеристического спектра (22). 1-1д. Индексы асимметрии линий характеристического спектра (23).
1-2. Перевод kX-единиц в абсолютные ангстремы. 23
1-3. Соотношения между единицами коэффициентов поглощения. 24
1-4. Рассеяние рентгеновских лучей. 24
1-4а. Рассеяние рентгеновских лучей различных энергий электронными оболочками и ядрами атомов (24). 1-4б. Рассеяние рентгеновских лучей в газах (25). 1-4в. Массовые коэффициенты рассеяния рентгеновских лучей (25). 1-4г. Массовые коэффициенты рассеяния σs/ρ (26). 1-4д. Коэффициенты рассеяния σэл (27). 1-4е. Сечения некогерентного рассеяния рентгеновских лучей (27).
1-5. Поглощение рентгеновских лучей. 28
1-5а. Скачок поглощения для некоторых элементов (28). 1-56. Вычисление коэффициентов поглощения (28). 1-5в. Номограмма для определения коэффициентов поглощения (30).
1-6. Суммарное ослабление рентгеновских лучей. 31
1-6а. Атомные коэффициенты ослабления для элементов (31). 1-66. Массовые коэффициенты ослабления μ/ρ для элементов (33). 1-6в. Массовые коэффициенты ослабления μ/ρ для больших длин волн (36). 1-6г. Массовые коэффициенты ослабления μ/ρ для малых длин волн (36). 1-6д. Массовые коэффициенты ослабления μ/ρ для некоторых соединений (37). 1-6е. Толщина слоя половинного ослабления рентгеновских лучей для некоторых элементов (37). 1-6ж. Толщина слоя половинного ослабления при различных углах падения лучей на образец (38).
1-7. Ионизирующее действие рентгеновских лучей. 40
1-8. Преломление рентгеновских лучей. 41
1-8а. Единичные декременты показателя преломления (41). 1-8б. Углы полного внутреннего отражения (42).
Глава 2. Получение и измерение рентгенограмм. 43
2-1. Оборудование рентгеновских лабораторий. 43
1. Рентгеновские установки (43). 2. Рентгеновские трубки и кенотроны (59). 3. Рентгеновские камеры (62). 4. Микрофотометры (63).
2-2. Получение сфокусированных линий. 66
2-3. Методы исследования превращений и состояния кристаллической решетки
при высоких и низких температурах. 69
2-4. Фотографический метод регистрации. 71
2-4а. Режимы съемки рентгенограмм некоторых материалов (71). 2-4б. Номограмма для установки рентгеновских камер обратной съемки (72). 2-4в. Номограмма для установки рентгеновских камер экспрессной съемки (72).
2-5. Ионизационный метод регистрации. 73
2-5а. Свойства счетчиков излучения (73). 2-5б. Поглощение рентгеновских лучей в счетчиках Гейгера-Мюллера (76). 2-5в. Эффективность различных типов счетчиков излучения (76).
2-6. Селективно-поглощающие фильтры. 77
2-7. Характеристики кристаллов-монохроматоров. 77
2-7а. Характеристики отражений и свойства кристаллов-монохроматоров (77). 2-7б. Отражательная способность кристаллов-монохроматоров (79). 2-7в. Оптимальная толщина кристаллов-монохроматоров при съемке на прохождение (79). 2-7г. Свойства плоских кристаллов-монохроматоров (79). 2-7д. Углы отражения для изогнутых кристаллов-монохроматоров (80).
2-8. Параметры съемки с изогнутым кварцевым монохроматором. 80
2-9. Измерение положения дифракционных линий на рентгенограммах. 86 2-9а. Определение угла скольжения при съемке на плоскую пленку (86). 2-9б. Поправка на нестандартность диаметра рентгеновской камеры (87). 2-9в. Поправка на толщину образца (91). 2-9г. Поправка на эксцентриситет образца в рентгеновской камере (92).
2-10. Измерение интенсивности. 93
2-10а. Число импульсов, нужное для получения заданной вероятной ошибки на ионизационной установке (93). 2-10б. Поправка на статистическую ошибку счета (93). 2-10в. Поправка на размер частиц для неподвижного образца (94). 2-10г. Поправка на размер частиц при вращении образца (95). 2-10д. Поправка на просчет счетчика (96).
2-11. Междублетные расстояния. 97
2-12. Некоторые данные для расчета лауэграмм. 98
2-12а. Сетка для расчета лауэграмм, снятых методом обратной съемки (98). 2-12б. Сетка для расчета лауэграмм, снятых на прохождение (100). 2-12в. Вспомогательная таблица для построения проекции кристалла по лауэграмме (102). 2-13. Определение ориентировки крупных кристаллов в поликристаллических образцах. 103
Глава 3. Индицирование рентгенограмм. 107
3-1. Вспомогательные таблицы. 107
3-la. Некоторые сложные тригонометрические функции (107).
3-1б. Значения l/d2 (158).
3-1в. Значения (196).
3-1г. Значения nλ и  (197).
3-2. Символы пространственных групп. 204
3-3. Таблицы погасаний для определения рентгеновских групп. 211 Кубическая система
3-4. Схемы рентгенограмм. 223
3-5. Квадратичные формы. 223
3-6. Графики для индицирования рентгенограмм. 240
3-7. График для определения принадлежности материала к кубической системе 250
3-8. Предельные значения суммы квадратов индексов для различных объемов ячейки при съемке на разных излучениях. 251
Тетрагональная система
3-9. Схемы рентгенограмм. 251
3-10. Квадратичные формы. 253
3-11. Значения. 255
3-12. Аналитический метод индицирования рентгенограмм. 256
3-13. Графики для индицирования рентгенограмм. 258 Гексагональная система
3-14. Схемы рентгенограмм. 267
3-15. Квадратичные формы. 270
3-16. Аналитический метод индицирования для гексагональной и ромбоэдрической систем. 274
3-17. Графики для индицирования рентгенограмм. 274
3-18. Соотношения между индексами при индицировании в гексагональной, ромбоэдрической и ортогексагональной системах. 284
Ромбоэдрическая система
3-19. Квадратичные формы. 289
3-20. Значения. 290
3-21. Соотношение между углом α и с/а в ромбоэдрической системе. 292
3-22. Зависимость суммы квадратов индексов от угла α при постоянном объеме ячейки. 294
3-23. Графики для индицирования рентгенограмм. 294
Ромбическая система
3-24. Аналитический метод индицирования рентгенограмм. 300
3-25. Графики для индицирования рентгенограмм. 303
Низшие сингонии 3-26. Графический метод индицирования рентгенограмм. 312
3-27. Применение теории гомологии для индицирования рентгенограмм кристаллов средних и низших сингоний. 314
Глава 4. Интенсивность линий на рентгенограммах. 328
4-1. Некоторые формулы интенсивности линий. 328
4-2. Значения. 329
Угловые множители интенсивности
4-3. Произведение поляризационного множителя, множителя Лоренца и геометрического множителя интенсивности для съемки без монохроматора. 330 4-3а. Для съемки по Дебаю в цилиндрической камере (330). 4-3б. Для съемки на плоскую пленку (331). 4-3в. Для отражения от монокристалла (333).
4-4. Произведение множителя Лоренца, поляризационного множителя и геометрического множителя для симметричной съемки с монохрома тором. 335
4-5. Некоторые тригонометрические функции. 340
Атомный множитель интенсивности
4-6 Вспомогательная таблица для вычисления атомных множителей. 341
4-7. Атомные множители рассеяния для атомов и ионов. 341
4-8. Поправка на аномальную дисперсию. 353
4-8а. Значения Δf'K (353). 4-8б. Значения Δf''K (354). 4-8в. Значения δK для некоторых элементов (354).
Структурный множитель
4-9. Вспомогательная таблица для вычисления структурных множителей. 355
4-10. Номограмма для расчета структурных амплитуд. 360
4-11. Расположение атомов в некоторых типах кристаллических структур. 361
4-12. Структурные амплитуды для некоторых пространственных групп кубической системы. 379
4-13. Структурные амплитуды для некоторых типов структур кубической системы 383
4-14. Структурные амплитуды для некоторых пространственных групп тетрагональной системы. 384
4-15. Структурные амплитуды для некоторых пространственных групп гексагональной системы. 385
4-16. Структурные амплитуды для некоторых типов структур гексагональной системы. 387
4-17. Температурный множитель интенсивности. 388
4-17а. Функция Дебая (388). 4-17б. Значения температурного множителя при различных значениях В и θ (389). 4-17в. Функции е-x и lge-x (390). 4-17г. Значения постоянного коэффициента В' в выражении для температурного множителя (392). 4-18. Множители повторяемости для различных кристаллических систем. 392
Абсорбционный множитель
4-19. Абсорбционный множитель для цилиндрических образцов. 393
4-19а. Абсолютные значения для однородных образцов (393). 4-19б. Относительные значения для однородных образцов (394). 4-19в. Абсолютные значения для образцов из порошка, наклеенного на нить (395).
4-20. Абсорбционный множитель для плоских образцов. 398
4-21. Абсорбционный множитель для сферических образцов. 407
4-21а. Абсолютные значения (407). 4-21б. Относительные значения (409).
4-22. Абсорбционный множитель для дисперсных порошков, смешанных со связкой. 409


РАЗДЕЛ II
НЕКОТОРЫЕ СПЕЦИАЛЬНЫЕ ЗАДАЧИ И МЕТОДЫ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА
Глава 5. Фазовый анализ. 413
5-1. Методы фазового анализа. 413
5-1а. Качественный фазовый анализ (413).
5-1б. Методы количественного фазового анализа с измерением интенсивности (414).
5-2. Кристаллическая структура элементов и соединений. 417
5-3. Межплоскостные расстояния и интенсивности линий на рентгенограммах элементов и соединений. 437
5-4. Таблицы для фазового анализа изоморфных соединений. 564
5-4а. Кристаллы кубической системы (564).
5-4б. Кристаллы тетрагональной системы (573).
5-4в. Кристаллы гексагональной системы (593)
5-5. Метод гомологических пар. 635
5-5а. Гомологические пары для определения количества аустенита в сталях (635). 5-5б. Гомологические пары для количественного фазового анализа двухфазных латуней (636). 5-5в. Гомологические пары для анализа окисления стали (636).
5-6. Метод наложения. 636
5-7. Пересчет весовых процентов в атомные. 637
Глава 6. Прецизионное определение периодов кристаллической решетки. 642
6-1. Особенности прецизионных методов измерения периодов кристаллической решетки. 642
6-1а. Применение метода асимметричной съемки (643).
6-1б. Съемка на больших расстояниях в расходящемся пучке лучей (646).
6-1в. Метод съемки с эталоном (646).
6-1г. Методы графической экстраполяции (646).
6-1д. Комбинированный метод графической экстраполяции и расчета (650).
6-1е. Аналитический метод наименьших квадратов (651).
6-1ж. Безэталонный метод (655).
6-1з. Особенности прецизионных определений периодов решетки при применении ионизационного метода (657).
6-2. Выбор метода прецизионного определения периодов. 660
6-2а. Методы измерения (660). 6-2б. Выбор метода (661).
6-3. Выбор излучения для кристаллов кубической системы. 661
6-4. Выбор излучения для кристаллов тетрагональной системы. 665
6-5. Выбор излучения для кристаллов гексагональной и ромбоэдрической систем. 667
6-6. Выбор условий съемки некоторых материалов. 670
6-7. Таблицы для определения периодов решетки материалов с кубической структурой. 670
6-7а. Съемка на медном излучении.(670).
6-7б. Съемка на никелевом излучении (676).
6-7в. Съемка на кобальтовом излучении (678).
6-7г. Съемка на железном излучении (681).
6-7д. Съемка на хромовом излучении (682).
6-8. Экстраполяционные функции. 684.
6-8а. Экстраполяционная функция cos2θ (684).
6-8б. Экстраполяционная функция  (685).
6-8в. Экстраполяционная функция θtgθ (687).
6-9. Периоды решетки некоторых стандартных веществ. 687
6.-10. Углы скольжения для некоторых стандартных веществ. 688
6-10а. NaCl (688). 6-10б. Ag (689). 6-10в. Au (689).
6-10г. Поликристаллический кварц (690).
6-10д. Монокристалл кварца (690).
6-10е. Некоторые линии Аl, Cr, Au, Ag и W (690).
6-11. Делители для приведения sin2θ к одной длине волны. 690
6-12. Поправка на преломление. 692
6-13. Коэффициенты линейного расширения для некоторых металлов, сплавов и материалов. 694
Глава 7. Определение напряжений 1 рода. 696
7-1. Некоторые формулы для определения напряжений. 696
7-2. Вспомогательная таблица для определения напряжений в железе, меди, алюминии и их сплавах. 697
7-3. Напряжения, приводящие к сдвигу линии 0,1 мм, для различных материалов и условий съемки. 711
7-4. Значения вспомогательной функции для расчета напряжений I рода в железе при съемке на кобальтовом излучении. 711
7-5. Значения постоянных в соотношениях для определения напряжений. 712
7-6. Поправка на соотношение между σx и σy. 713
7-7. Поправка на колебание пленки. 713
7-8. Номограмма для определения напряжений. 713
Глава 8. Определение размеров кристаллитов и блоков, микронапряжений и искажений кристаллической решетки. 715
8-1. Определение размеров кристаллитов. 715
8-1а. Определение размеров кристаллитов по величине и числу пятен на рентгенограмме (715).
8-1б. Вспомогательная таблица для определения размеров блоков по интенсивности линий (716).
8-2. Измерение размеров кристаллитов и блоков по интенсивности линий. 717
8-3. Рентгеновское определение плотности дислокаций. 723
8-4. Геометрическое расширение линий на рентгенограмме. 725
8-5. Поправка на немонохроматичность излучения. 725
8-6. Физическое расширение линий. 726
8-7. Разделение влияния размеров блоков и микронапряжений на расширение линий 728
8-8. Фактор анизотропии микронапряжений. 733
8-9. Постоянная формы блоков. 733
8-10. Метод нахождения истинной ширины и формы линии с помощью рядов Фурье 734
8-10а. Значения Acos2πtx (740). 8-10б. Значения Asin2πtx (752).
8-10в. Таблица для определения положений максимумов (764).
8-11. Определение величины динамических искажений кристаллической решетки и характеристической температуры. 766
8-12. Определение искажений III рода (статических). 768
Глава 9. Определение преимущественных ориентировок (текстур). 774
9-1, Сетка Вульфа. 775
9-2. Полярная сетка. 775
9-3. Стандартные проекции кристаллов. 777
9-4. Углы между атомными плоскостями. 777
9-4а. Кубическая система (777).
9-4б. Тетрагональная система (781).
9-4в. Гексагональная система (781).
9-5. Сетки для построения полюсных фигур при съемке на плоскую пленку. 782
9-6. Сетка для построения полюсных фигур при съемке в аксиальной камере 786
9-7. Поправки на поглощение при съемке с ионизационной регистрацией. 787
Глава 10. Исследование диффузного рассеяния рентгеновских лучей и рассеянияпод малыми углами. 792
10-1. Некоторые формулы интенсивности диффузного рассеяния. 792
10-2. Значения s(θ) для разных излучений. 795
10-3. Поляризационный множитель для диффузного рассеяния. 798
10-4. Угловые множители интенсивности. 801
10-5. Интенсивность некогерентного рассеяния. 804
10-6. Релятивистская поправка для некогерентного рассеяния. 806
10-7. Значения q для частиц различной формы. 807
10-8. Функции рассеяния для систем однородных частиц. 808
10-8а. Однородные сферические частицы (общие значения функции) (808).
10-8б. Однородные сферические частицы (максимумы и минимумы) (809).
10-8в. Эллипсоиды вращения (809).
10-8г. Частицы в форме цилиндров (811).
10-8д. Частицы в форме цилиндров малого диаметра (811).
10-8е. Частицы в форме эллиптических цилиндров (812).
10-8ж. Частицы в форме дисков (812).
10-8з. Частицы в форме прямоугольных призм (813).
10-9. График для определения радиуса вращения частиц. 813
10-10. Рассеяние неоднородными системами частиц. 814
10-10а. Система сферических частиц (814).
10-10б. Система сферических частиц, разделенных промежутками (815).
10-10в. Система сферических частиц различного радиуса (815).
10-10г. Система частиц с линейной структурой (817).
10-10д. Наличие ближнего порядка в расположении частиц (817).
10-11. Кривые рассеяния для различных распределений частиц по размерам. 818
10-12. Эффект коллиматора. 821
10-12а. Влияние коллиматора на значение функции рассеяния (822).
10-12б. Влияние коллиматора на экстремумы функции рассеяния (822).
10-12в. Выбор коллиматора (824).
Глава 11. Электронографический анализ. 825
11-1. Некоторые формулы электронографии. 825
11-2. Зависимость длины волны электронов от приложенного напряжения. 827
11-3. Поправка Δ при прецизионных измерениях межплоскостных расстояний по электронограммам. 828
11-4. Универсальная функция атомного рассеяния для электронов. 828
11-5. Атомные множители рассеяния для электронов. 828
11-5а. Рассеяние на легких атомах (828).
11-5б. Рассеяние на средних и тяжелых атомах (829).
11-5в. Рассеяние на ионах (833).
11-6. Симметрия точечных электронограмм. 833
Глава 12. Нейтронографический анализ. 835
12-1. Некоторые формулы нейтронографии. 835
12-2. Характеристики нейтронов различных энергий. 843
12-3. Свойства рентгеновских лучей и нейтронов. 844
12-4. Рассеяние нейтронов на изотопах элементов. 845
12-5. Поглощение нейтронов. 847
12-6. Ядерные и магнитные амплитуды рассеяния нейтронов. 849
12-7. Формфакторы магнитного рассеяния для атомов и ионов. 849
12-8. Эффективные сечения рассеяния нейтронов для металлов и сплавов. 850
Литература. 851
Предметный указатель. 860


Предисловие.
    Среди физических методов исследования и контроля материалов важное место занимает рентгеноструктурное исследование кристаллических материалов. Металлы и сплавы, неорганические и органические химические соединения и другие кристаллические материалы применяются в химической промышленности и машиностроении, металлургии и строительстве, радиотехнике и сельском хозяйстве. Поскольку технические материалы, как правило, являются поликристаллическими, в промышленности проводят преимущественно рентгеноструктурный анализ различных процессов, происходящих в поликристаллических телах.

    Особенностью обработки данных рентгеновского анализа является широкое использование констант, определенных ранее экспериментально или вычисленных теоретически. При рентгеновских исследованиях необходимы также очень трудоемкие расчеты, которые могут быть значительно сокращены при использовании вспомогательных таблиц и графиков.

    Отсутствие необходимых справочных данных заставляет исследователя проводить дополнительные, часто очень громоздкие экспериментальные и расчетные работы.
В Советском Союзе был издан только один справочник общего характера по рентгеноструктурному анализу, составленный под редакцией А. И. Китайгородского. Вышедший 20 лет назад, этот справочник сейчас стал библиографической редкостью. В нем достаточно полно были представлены методы рентгеноструктурного анализа как монокристаллов, так и поликристаллов и приведены необходимые таблицы, многие из которых не утратили своего значения до сегодняшнего дня; но, естественно, в целом справочник устарел. Новый, весьма обстоятельный «Рентгенометрический определитель минералов»   В. И. Михеева имеет очень узкое, хотя и важное, назначение.

    Из иностранных рентгенографических справочников следует упомянуть «Интернациональные таблицы для определения кристаллических структур»- фундаментальный справочник, посвященный в основном исследованию монокристаллов, и несколько справочников, посвященных частным методикам. Справочник Загеля, изданный в Берлине в 1958 году, содержит некоторые оригинальные и ценные таблицы и номограммы. К сожалению, он рассчитан только на химиков и не содержит материала, необходимого для работы в рентгенографической лаборатории машиностроительного завода или института в других отраслях промышленности (например, для определения остаточных напряжений и т. д.; в нем нет даже таблиц межплоскостных расстояний для химических  соединений).



Бесплатно скачать электронную книгу в удобном формате, смотреть и читать:
Скачать книгу Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов, Миркин Л.И., Уманский Я.С., 1961 - fileskachat.com, быстрое и бесплатное скачивание.

Скачать zip
Ниже можно купить эту книгу по лучшей цене со скидкой с доставкой по всей России.Купить эту книгу


Скачать книгу - Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов, Миркин Л.И., Уманский Я.С., 1961 - Яндекс Народ Диск.

Скачать книгу - Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов, Миркин Л.И., Уманский Я.С., 1961 - depositfiles.




Теги: справочник по физике :: Уманский :: Миркин :: 1961