Необходимость развития новейших технологий обусловила актуальность методов анализа поверхности и межфазных границ (внутренних поверхностей). Роль анализа поверхности и межфазных границ в современной аналитической химии велика, поскольку он позволяет получить информацию о фундаментальных химических процессах, происходящих на поверхности: коррозии, адсорбции, хемосорбции, окислении, пассивации, диффузии, сегрегации, а также о реакционной способности веществ. В настоящее время для анализа поверхности и межфазных границ реально используют более 30 методов, около 15 из них считаются основными. Наиболее значимыми методами, широко используемыми в промышленности, являются рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия, масс-спектрометрия вторичных ионов и спектроскопия резерфордовского обратного рассеяния, используемые для анализа состава поверхности; растровая электронная микроскопия для исследования морфологии поверхности, аналитическая электронная микроскопия для анализа межфазных границ, ИК- и КР-спектроскопия для молекулярного поверхностного и межфазного анализа. Соответствующая группа методов исследования получила название «методы локального анализа и анализа поверхности» (МЛААП). В учебном пособии наиболее подробно изложены экспериментальные и теоретические основы электронной микроскопии - одного из наиболее востребованных инструментальных методов исследования и анализа.
Предназначено для магистров направлений подготовки 04.04.01 Химия и 18.04.01 Химическая технология, аспирантов 04.06.01 Химические науки, специализирующихся в области аналитической, физической химии и 22.06.01 Технологии материалов.
