В учебном пособии рассмотрены физические основы и аппаратура для сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Основное внимание уделяется практическим особенностям метода. Приведены экспериментальные результаты, полученные с помощью СТМ. Показана перспективность метода для анализа морфологии и структуры поверхности.
Учебное пособие рассчитано на студентов старших курсов. Оно может быть полезно для аспирантов соответствующих специальностей и всех кто интересуется увлекательным миром физики поверхности.








