Оптические методы исследования позволяют изучать физические свойства полупроводников и независимо от других методов точно определять их характеристические параметры В настоящей монографии творчески обобщены последние результаты экспериментальных исследований оптических свойств полупроводников. Эти материалы полно раскрывают особенности структуры электронных спектров полупроводников, наиболее детально исследованы и широко применяются в полупроводниковых приборах. Большое внимание в монографии уделено описанию методик экспериментального исследования спектров отражения и прозрачности в области длин волн от ультрафиолетовой до далекой инфракрасной Краткое рассмотрение теории явлений позволяет читателю сделать вывод о возможностях метода и точности измеряемых с его помощью параметров полупроводника
