Цель издания - познакомить студентов химического факультета, изучающих дисциплины «Физические методы исследования» и «Методы локального анализа и анализа поверхности», с теоретическими основами, экспериментальными возможностями и аппаратурным оформлением микроскопических и спектроскопических методов исследования и анализа поверхности твердых тел. Особое внимание в учебном пособии уделяется методам рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и Оже-электронной спектроскопии, широко применяемым в химических исследованиях для качественного и количественного анализа состава приповерхностных слоев материалов.
![Физические методы исследования, Металлография, микроскопия, электронная спектроскопия, Шеин А.Б., Габов А.Л., 2023 Физические методы исследования, Металлография, микроскопия, электронная спектроскопия, Шеин А.Б., Габов А.Л., 2023](/img/knigi/fizika/1614/161469.jpg)